SP-S系列微型激光干涉振动分析仪

简介:微型干涉振动分析仪


构造和工作原理:

德国SIOS公司生产的SP-S激光干涉分析仪是用来测量物体或物体表面位置动态变化的测量仪器。该分析仪最大的特点是测量精确及非接触式测量。SP-S激光干涉分析仪允许测量机械振动的频率范围在0到500千赫兹。

SP-S激光干涉分析仪的结构是从原有SP系列微型平面反射镜干涉仪的概念基础上延伸出来的新产品。与SP系列不同的是SP-S系列在传感测头处安装了一个辅助透镜,从而保证了散射光线的稳定性。

整套系统包括装有激光器的模组化设计的电子单元,微型化设计的传感器头以及各种介面。光纤耦合的干涉仪可以将沿光轴的运动转换为干涉条纹。内设的高解析度的解码电路将对这些干涉条纹进行快速处理。

操作和数据结果的显示可以结合配有专门软件的个人计算机来得以实现,并且进行振幅频率光谱曲线的傅立叶变换。

 

特性和优点:

  • 高精度的振动分析和长度测量系统
  • 非接触式测量
  • 安装灵活
  • 可依客户要求进行修改
  • 激光光束光纤耦合(消除对测量结果的热影响)
  • 对周围环境条件的修正
  • 易于对准和使用
  • 不允许在粗糙表面的测量物体上进行面移动
  • 包含傅立叶变换(FFT)-频谱分析软件

 

应用:

  • 对各种粗糙表面进行非接触式振动测量
  • 振动光谱分析
  • 测定板的振动模式(面振动)
  • 测定微型物体的共振频率
  • 利用多系统进行多位置测量
  • 进行高精度长度测量

 

技术参数:

 技术参数               

标准SP-S 120 

 

工作距离:                                                 30...70  毫米,240毫米

(依据客户需要进行固定出厂设定)

激光光斑直径:                                             12...30微米, 100微米

(受距离影响)

位移测量范围:                                             ± 20毫米
  (因被测量表面性质差异而有所不同)

解析度:                                                   0,3纳米

取样频率范围:                                             1...1000 千赫

可测量的频率范围:                                         0...500千赫

波长:                                                     632,8纳米

表面粗糙度:                                               任意

表面反射率:                                               ≥5 x 10 -4

最大移动速度:                                             1,5 米/秒

尺寸(长 x宽 x 高) :
 · 传感测头:                                                 36 x 72 x 72毫米

 · 传感测头与校准装置:                                     54  x 115 x 90毫米
 · 光电信号处理/电源供给单元:                             150 x 450 x 400毫米

传感测头与电子单元间的光纤电缆长度:                       3 米, 可选用至 10 米

 

 基于WINDOWS操作系统的软件

  • 光谱分析
  • 数字滤波
  • 记录长度范围:       从256 到32,768 个数据点         
  • 振动幅度和加速度的计算
  • 平均光谱                                                                         
  • 外部硬件触发